[发明专利]用于磁定位设备的测量值的校正有效

专利信息
申请号: 200580005138.X 申请日: 2005-02-11
公开(公告)号: CN1921800A 公开(公告)日: 2007-02-28
发明(设计)人: S·克吕格尔;H·-A·维施曼;H·蒂明格尔;J·萨布琴斯基;J·博尔格特 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: A61B5/06 分类号: A61B5/06
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 顾珊;张志醒
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及对借助于磁定位设备测量的场传感器(4)的位置(x)进行校正的设备和方法。例如由计算机断层摄影装置(1)的旋转部件(1a,1b)导致的外部场失真然后在放置于已知位置的基准传感器(3)的帮助下被确定。有可能从基准传感器(3)的测量信号例如推断计算机断层摄影装置(1)的当前旋转角(φ)。基于经验确定关系(δ(x,φ)),场传感器(4)的未校正确定位置(x)然后可以关于场失真转换为被校正位置(x′)。场发生器(2)和基准传感器(3)优选地被固定到台架以便消除场失真对台架的倾斜的依赖性。
搜索关键词: 用于 定位 设备 测量 校正
【主权项】:
1.一种磁定位设备,包括:a)用于生成磁场的场发生器(2);b)用于测量所述磁场的场传感器(4);c)用于测量已知参考位置处的所述磁场的基准传感器(3);d)控制单元(5),其被布置成用于确定场传感器(4)相对于场发生器(2)的位置(x′),由此通过考虑基准传感器(3)补偿外部场失真。
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