[发明专利]半导体纳米导线及包括该纳米导线的半导体装置有效

专利信息
申请号: 200580005184.X 申请日: 2005-12-21
公开(公告)号: CN1922720A 公开(公告)日: 2007-02-28
发明(设计)人: 斋藤彻;川岛孝启 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/786;H01L29/06
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的纳米导线(100),包括多个接触区域(10a、10b)和与多个接触区域(10a、10b)连接的至少一个沟道区域(12)。沟道区域(12)由第1半导体材料形成,沟道区域(12)的表面由在沟道区域(12)上选择性地形成的绝缘层覆盖。多个接触区域(10a、10b)分别由与所述沟道区域(12)的第1半导体材料不同的第2半导体材料形成。接触区域(12)的至少表面具有导电部分。
搜索关键词: 半导体 纳米 导线 包括 装置
【主权项】:
1.一种纳米导线,包含多个接触区域、和与所述多个接触区域连接的至少一个沟道区域,所述沟道区域由第1半导体材料形成,而且所述沟道区域的表面由在所述沟道区域上选择性地形成的绝缘层覆盖,所述多个接触区域分别由与所述沟道区域的所述第1半导体材料不同的第2半导体材料形成,所述接触区域的至少表面具有导电部分。
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