[发明专利]用于映射X－射线荧光标记物分布的装置和方法有效
| 申请号： | 200580005414.2 | 申请日： | 2005-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN1922476A | 公开（公告）日： | 2007-02-28 |
| 发明（设计）人： | G·哈丁;G·马滕斯;H·巴施多夫;B·施维策尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王小衡;张志醒 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及用于确定身体体积(14)中X－射线荧光(XRF)标记物(16)的分布的方法和装置。用来自X－射线源(10)的射线束(12)照射身体体积(14)，该X－射线源(10)具有量子能刚好高于XRF标记物(16)的K－边界的第一射线成分，和量子能刚好低于XRF标记物(16)的K－边界的第二射线成分。来自身体体积(14)的第二射线成分以位置分辨的方式由检测器(30)检测。为了将X－射线荧光成分从背景辐射中分离出来，用射线束对身体体积进行第二次照射，其中通过由X－射线标记物材料制成的过滤器(22)将第一射线成分从射线束中完全除去。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 映射 射线 荧光 标记 分布 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于映射XRF标记物(16)在身体体积(14)中的分布的装置，包括：-用于发射射线束(12)的X射线源(10)，所述射线束包括量子能高于XRF标记物的K-边界的第一射线成分(I1)和量子能低于标记物的K-边界的第二射线成分(I2)；-用于检测来自身体体积(14)的次级辐射的检测器(30)，所述检测器位于X射线源(10)的射线束(12)外部；-用于调节射线束(12)中第一和第二射线成分之间的强度比的装置(22)。
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