[发明专利]用于调节老化期间的温度的系统和方法有效
| 申请号： | 200580006304.8 | 申请日： | 2005-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN1997904A | 公开（公告）日： | 2007-07-11 |
| 发明（设计）人： | 埃里克·千里·盛;戴维·H·霍夫曼;约翰·劳伦斯·尼文 | 申请（专利权）人： | 全美达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 张维 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了用于减少老化测试期间的温度耗散的系统和方法。待测试器件每个都经受一个体偏置电压。体偏置电压可用于控制结温(例如，在待测试器件处测量的温度)。可以逐器件地调整施加到每个待测试器件的体偏置电压，以便在每个器件处获得基本相同的结温。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 调节 老化 期间 温度 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于老化测试的装置，包括：待测试器件，其适于接收体偏置电压；电压源，其用于给所述待测试器件提供所述体偏置电压；以及线路板，其用于耦合所述待测试器件和所述电压源，其中所述待测试器件经受根据所述体偏置电压调节的测试温度。
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