[发明专利]通过双能量辐射扫描和缓发中子探测来检查物体

摘要

在一个实施例中，检查物体内容的方法包括：以第一和第二辐射能量扫描物体；探测第一和第二能量下的辐射；以及对对应像素计算在第一和第二能量下探测的辐射的第一函数。像素是通过物体的辐射在探测器上的投影。对多个像素的第一函数分组，并分析该组的第二函数，以确定物体是否至少潜在地包含原子数大于预定原子数的高原子数材料。可以将第二函数和第三函数进行比较，该第三函数可以是至少部分地基于具有预定原子数的材料的阈值。可以探测缓发中子，以确定材料是否为核材料。也公开了系统。

主权项

1.一种检查物体内容的方法，该方法包括：用第一能量的第一辐射束扫描物体的第一部分；探测第一辐射束与第一部分相互作用后的第一辐射，其中，通过每个部分的第一辐射束的至少一部分在探测器上的投影定义了各个第一像素；用不同于第一能量的第二能量的第二辐射束来扫描物体的第二部分；探测第二辐射束与第二部分相互作用后的第二辐射，其中，通过每个部分的第二辐射束的至少一部分在探测器上的投影定义了各个第二像素；对对应的第一和第二像素计算在第一和第二能量下探测的辐射的第一函数；将多个对应像素的第一函数分组为至少一组；根据该至少一组中的多个像素的至少一些像素的第一函数，来计算第二函数；以及至少部分地根据该至少一组的第二函数，来确定物体是否至少潜在地包含具有比预定原子数高的高原子数的材料。