[发明专利]用于确定谐振结构的至少一个特征参数的方法和设备

摘要

确定谐振结构(4)的至少一个特征参数的方法包括以下步骤：首先把谐振结构(4)放置在一个位置，所述位置是处在第一天线(2)的远区场和第二天线(5)的远区场中，以及第二，藉助于第一天线(2)在给定的频率范围内以不同的频率发射电磁波(EEW)以使得发射的电磁波(EEW)被谐振结构(4)修改和得到修改后的电磁波(MEW)，以及第三，在第一确定步骤期间确定表示与发送的电磁波(EEW)有关的功率的第一电功率值，以及第四，藉助于第二天线(5)接收所得到的修改后的电磁波(MEW)，以及第五，在第二确定步骤期间确定表示与收到的修改后的电磁波(MEW)有关的功率的第二电功率值，以及第六，通过使用在第一和第二确定步骤期间确定的第一和第二电功率值，确定至少一个特征参数。

主权项

1.确定谐振结构(4)的至少一个特征参数(TR)的方法包括以下步骤：a)把谐振结构(4)放置在一个位置，所述位置处在第一天线(2)的远区场和第二天线(5)的远区场中，以及b)藉助于第一天线(2)发射具有在给定的频率范围内的变化的频率电磁波(EEW)，以使得发射的电磁波(EEW)被谐振结构(4)修改并得到修改后的电磁波(MEW)，以及c)在第一确定步骤期间确定表示与发送的电磁波(EEW)相关联的功率的第一电功率值，以及d)藉助于第二天线(5)接收所得到的修改后的电磁波(MEW)，以及e)在第二确定步骤期间确定表示与收到的修后的电磁波(MEW)相关联的功率的第二电功率值，以及f)通过使用在第一和第二确定步骤期间确定的第一和第二电功率值，确定至少一个特征参数。