[发明专利]聚焦的相干-散射计算机层析成像无效
申请号: | 200580007708.9 | 申请日: | 2005-03-01 |
公开(公告)号: | CN1929786A | 公开(公告)日: | 2007-03-14 |
发明(设计)人: | J·-P·施洛姆卡;M·W·P·达加茨 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/02 | 分类号: | A61B6/02;A61B6/03;G01V5/00;G01N23/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘红;张志醒 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 由于提供了狭缝准直仪,大大降低了扇形波束的强度,使得必须使用昂贵的大功率x-光电子管。根据本发明的一种示范实施例,可以结合聚焦准直仪使用具有非常长的焦点大功率电子管。电子管可以是便宜的固定阳极的电子管,但由于大焦点,其仍然具有15kW的大功率。准直仪可以确保重新构造出的散射函数的分辨率不会下降。所照亮的切片的厚度得以增加,从而提供了各向同性的空间解析。 | ||
搜索关键词: | 聚焦 相干 散射 计算机 层析 成像 | ||
【主权项】:
1.用于检查目标物体的相干散射计算机层析成像设备,包括:射线源(4);第一射线检测器(15);和第二射线检测器(30);其中射线源生成适合以扇面穿透目标物体的射线束;其中第一射线检测器被放置在扇面中与射线源相对的位置;其中第一射线检测器用来检测通过目标物体发出的射线束的第一射线;其中第二射线检测器被放置在沿垂直于扇面的方向距扇面一段偏移的与射线源相对的位置上;其中第二射线检测器用来检测从目标物体中的位置散射的射线束的第二射线;其中在该位置,射线束在垂直于扇面的方向上有一高度;其中在该位置沿着该高度从该射线束散射的第二射线的光子和该扇面之间的散射角度是固定的。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司,未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580007708.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图像处理装置及其方法
- 下一篇:具有按钮的剃须刀