[发明专利]鉴定糖链结构的方法及其分析装置有效
申请号: | 200580008027.4 | 申请日: | 2005-03-18 |
公开(公告)号: | CN1930470A | 公开(公告)日: | 2007-03-14 |
发明(设计)人: | 龟山昭彦;成松久;菊池纪广;中家修一 | 申请(专利权)人: | 独立行政法人产业技术综合研究所;三井情报开发株式会社;株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王旭 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的是提供一个分析糖链结构的系统,其能够用少量样品简单而快速地确定糖链的完整一级结构。在鉴定一个分析目标糖链结构的方法中,用质谱仪通过比较测量的MS3碎片图谱和数据库中所存参考MS3碎片图谱,这里测量的MS3碎片图谱是包含在测量的MS2碎片图谱中的每一个MS2碎片离子的碎裂图谱,其通过将分析目标糖链进行碎裂质谱分析而获得,本发明的特征在于,包含在测量的MS2碎片图谱中的多个MS2碎片离子中,只有对选定的MS2碎片离子进行碎裂质谱分析,这里每一个选定的MS2碎片离子具有存储于数据库中的多个参考MS3碎片图谱,其相互的相似指数小于一个预定值,其中多个参考MS3碎片图谱和选定的MS2碎片离子具有同样的先驱离子质荷比。 | ||
搜索关键词: | 鉴定 链结 方法 及其 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.用质谱仪鉴定分析-目标糖链结构的方法中,通过比较测量的MS3碎片图谱和数据库中存储的参考MS3碎片图谱,其中所述测量的MS3碎片图谱是包含在测量的MS2碎片图谱中的每一个MS2碎片离子的碎裂图谱,其通过将所述分析-目标糖链进行碎裂质谱分析而获得,所述鉴定糖结构的方法的特征在于,在包含在测量的MS2碎片图谱中的多个MS2碎片离子中,只对选定的MS2碎片离子进行碎裂质谱分析,其中每一个选定的MS2碎片离子具有存储于数据库中的多个参考MS3碎片图谱,其相互相似指数等于或小于一个预定值,其中所述多个参考MS3碎片图谱和所述选定的MS2碎片离子具有同样的先驱离子质荷比。
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