[发明专利]在一次可写记录介质上记录数据的方法和设备有效
| 申请号： | 200580008724.X | 申请日： | 2005-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1934649A | 公开（公告）日： | 2007-03-21 |
| 发明（设计）人： | 朴成浣 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 侯颖媖 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了一种在一次可写记录介质上记录数据的方法和装置。在一次可写记录介质中，该方法包括：当在记录介质中检测到有缺陷区时，决定用于替换该有缺陷区的替换记录方法；当所检测到的有缺陷区被替换记录在备用区中时，将有缺陷区的位置信息和备用区的位置信息作为缺陷管理信息记录在临时管理区中；以及当所检测到的有缺陷区被跳过，并且数据被替换记录在下一个连续的区中时，将指示所跳过的曲是有缺陷区的信息作为缺陷管理信息记录在临时管理区中。由此，可更高效地管理一次可写记录介质，并且数据可被更高效地记录在记录介质上。 | ||
| 搜索关键词： | 一次 记录 介质 数据 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.在一次可写记录介质中的一种在所述一次可写记录介质中记录数据的方法，所述方法包括：当在所述记录介质中检测到有缺陷区时，决定用于替换所述有缺陷区的替换记录方法；当所检测到的有缺陷区被替换记录在备用区中时，将所述有缺陷区的位置信息和所述备用区的位置信息作为缺陷管理信息记录在临时管理区中；以及当所检测到的有缺陷区被跳过，并且所述数据被替换记录在下一个连续的区中时，将指示所跳过的区是有缺陷区的信息作为缺陷管理信息记录在临时管理区中。
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