[发明专利]在电接触的被掩埋材料上具有有源区的横向介电隔离的集成电路以及制造方法无效
申请号: | 200580009361.1 | 申请日: | 2005-01-21 |
公开(公告)号: | CN1934696A | 公开(公告)日: | 2007-03-21 |
发明(设计)人: | 福尔克尔·杜德克 | 申请(专利权)人: | ATMEL德国有限公司 |
主分类号: | H01L21/74 | 分类号: | H01L21/74;H01L21/62 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 曾立 |
地址: | 德国海*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 说明了一种集成电路,具有由有源半导体材料构成的第一层(12),该第一层沿着埋层(16)的一个第一面(14)延伸;并且具有沟槽结构(18,38),这些沟槽结构将由有源半导体材料构成的所述层(12)切穿并且具有介电壁区域(42,44),其中该介电壁区域(42,44)在横向上将由有源半导体材料构成的所述层(12)的部分区域(52,54,56)彼此电隔离,并且其中这些沟槽结构(18,38)还具有第一内部区域(46),这些第一内部区域以导电材料而填满并且导电地接触所述埋层(16)。该集成电路的特点在于,这些沟槽结构(18,38)的第一壁区域(42)将所述埋层(16)完全切穿,并且所述沟槽结构(18,38)的第二壁区域(44)伸入到所述埋层(16)中,而没有将其完全切断。此外还说明了一种用于制造这种集成电路的方法。 | ||
搜索关键词: | 接触 掩埋 材料 具有 有源 横向 隔离 集成电路 以及 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.集成电路,具有一个由有源半导体材料构成的第一层(12),该第一层沿着一个埋层(16)的一个第一面(14)延伸;并且具有一些沟槽结构(18,38),这些沟槽结构将由有源半导体材料构成的所述层(12)切穿并且具有介电壁区域(42,44),其中这些介电壁区域(42,44)在横向上将由有源半导体材料构成的所述层(12)的多个部分区域(52,54,56)彼此电隔离,并且其中这些沟槽结构(18,38)还具有第一内部区域(46),这些第一内部区域被导电材料填满并且导电地接触所述埋层(16),其特征在于,这些沟槽结构(18,38)的第一壁区域(42)将所述埋层(16)完全切穿,并且这些沟槽结构(18,38)的第二壁区域(44)伸入到所述埋层(16)中,而没有将其完全切断。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造