[发明专利]用于去除表面沉积物的远距腔室法无效

专利信息
申请号: 200580009552.8 申请日: 2005-03-24
公开(公告)号: CN101044262A 公开(公告)日: 2007-09-26
发明(设计)人: H·H·萨温;B·白 申请(专利权)人: 麻省理工学院
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;H01L21/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 林森
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种改进的远距等离子清洗方法,该方法用于去除制造电子器件的沉积室的内部等表面的表面沉积物。所述改进涉及使用高中性温度至少约3,000K的活化气体。所述改进还涉及优化氧气和碳氟化合物的比率以获取更好的刻蚀速度和排放气体控制。
搜索关键词: 用于 去除 表面 沉积物 远距腔室法
【主权项】:
1.一种去除表面沉积物的方法,所述方法包括:(a)在远距腔室中将含有氧气和碳氟化合物的气体混合物活化,其中氧气和碳氟化合物的摩尔比至少是1∶4,使用足够的能量作用足够的时间使所述气体混合物达到至少约3,000K的中性温度以形成活化气体混合物;并且随后(b)将所述活化气体混合物与表面沉积物接触,由此去除至少某些所述表面沉积物。
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