[发明专利]适于老化测试的系统和方法有效
| 申请号： | 200580009762.7 | 申请日： | 2005-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN1938598A | 公开（公告）日： | 2007-03-28 |
| 发明（设计）人： | 埃里克·千里·盛;戴维·H·霍夫曼;约翰·劳伦斯·尼文 | 申请（专利权）人： | 全美达股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 张维 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 描述了用于减少老化测试期间的温度耗散的系统和方法。使多个待测试器件均经受体偏置电压。该体偏置电压减少或基本上最小化与该待测试器件关联的泄漏电流。因此，减少老化期间的散热。 | ||
| 搜索关键词： | 适于 老化 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于老化测试的装置，包括：多个待测试器件，每个待测试器件经受体偏置电压；电压源，用于向所述待测试器件提供所述体偏置电压；以及线路板，用于耦合所述待测试器件和所述电压源。
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