[发明专利]促进多孔低k膜与下方阻挡层的粘附的技术无效

专利信息
申请号: 200580010028.2 申请日: 2005-03-24
公开(公告)号: CN1938833A 公开(公告)日: 2007-03-28
发明(设计)人: 福兰斯马尔·斯楚弥特;亚历山德罗斯·T·迪莫斯;德里克·R·维蒂;海澈姆·穆萨德;安相和;莱斯特·A·德库兹;卡勒德·A·埃彻尔;崔振江 申请(专利权)人: 应用材料公司
主分类号: H01L21/316 分类号: H01L21/316;H01L21/3105;C23C16/40
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 赵飞
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 通过形成比其上方的多孔低k膜碳含量更低、氧化硅含量更高的中间层,改善了多孔低k膜与下方的阻挡层的粘附。粘附层可以单独或者组合使用多种技术来形成。在一个方案中,紧接低k材料的沉积之前,可以通过引入富氧化气体,诸如O2/CO2等,来氧化Si前驱体,形成粘附层。在另一个方案中,在低k膜沉积之前,去除诸如α-萜品烯、异丙基苯或者其它非含氧有机物之类的热不稳定化学品。在另一个方案中,诸如引入非含硅组分的方式的硬件或处理参数可以被修改,以使得在低k膜沉积之前可以形成氧化物界面。在另一个方案中,诸如剂量和能量之类的电子束处理参数或者热退火的使用,可以被控制来去除阻挡材料和低k膜中间的界面处的碳物质。在另一个方案中,在低k沉积之前可以引入预处理等离子体,以增强阻挡界面的加热,使得在低k沉积气体被引入并且沉积低k膜时形成薄的氧化物界面。
搜索关键词: 促进 多孔 下方 阻挡 粘附 技术
【主权项】:
1.一种用于促进纳米多孔低k膜和下方的衬垫/阻挡层之间的粘附的方法,所述方法包括:提供具有衬垫/阻挡层的衬底;在所述衬垫/阻挡层上形成氧化硅粘附层;在所述粘附层上沉积低k膜;以及固化所沉积的所述低k膜,以在其中形成纳米孔。
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