[发明专利]促进多孔低k膜与下方阻挡层的粘附的技术无效
申请号: | 200580010028.2 | 申请日: | 2005-03-24 |
公开(公告)号: | CN1938833A | 公开(公告)日: | 2007-03-28 |
发明(设计)人: | 福兰斯马尔·斯楚弥特;亚历山德罗斯·T·迪莫斯;德里克·R·维蒂;海澈姆·穆萨德;安相和;莱斯特·A·德库兹;卡勒德·A·埃彻尔;崔振江 | 申请(专利权)人: | 应用材料公司 |
主分类号: | H01L21/316 | 分类号: | H01L21/316;H01L21/3105;C23C16/40 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 赵飞 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 通过形成比其上方的多孔低k膜碳含量更低、氧化硅含量更高的中间层,改善了多孔低k膜与下方的阻挡层的粘附。粘附层可以单独或者组合使用多种技术来形成。在一个方案中,紧接低k材料的沉积之前,可以通过引入富氧化气体,诸如O2/CO2等,来氧化Si前驱体,形成粘附层。在另一个方案中,在低k膜沉积之前,去除诸如α-萜品烯、异丙基苯或者其它非含氧有机物之类的热不稳定化学品。在另一个方案中,诸如引入非含硅组分的方式的硬件或处理参数可以被修改,以使得在低k膜沉积之前可以形成氧化物界面。在另一个方案中,诸如剂量和能量之类的电子束处理参数或者热退火的使用,可以被控制来去除阻挡材料和低k膜中间的界面处的碳物质。在另一个方案中,在低k沉积之前可以引入预处理等离子体,以增强阻挡界面的加热,使得在低k沉积气体被引入并且沉积低k膜时形成薄的氧化物界面。 | ||
搜索关键词: | 促进 多孔 下方 阻挡 粘附 技术 | ||
【主权项】:
1.一种用于促进纳米多孔低k膜和下方的衬垫/阻挡层之间的粘附的方法,所述方法包括:提供具有衬垫/阻挡层的衬底;在所述衬垫/阻挡层上形成氧化硅粘附层;在所述粘附层上沉积低k膜;以及固化所沉积的所述低k膜,以在其中形成纳米孔。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于应用材料公司,未经应用材料公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580010028.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造