[发明专利]半导体装置和其制造方法有效
申请号: | 200580010547.9 | 申请日: | 2005-01-12 |
公开(公告)号: | CN1938839A | 公开(公告)日: | 2007-03-28 |
发明(设计)人: | 大内明;村上朝夫 | 申请(专利权)人: | 日本电气株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 陆锦华;李亚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明在将半导体元件和布线基板的间隙进行树脂密封而形成的半导体装置和其制造方法中,实现高可靠性的电连接。在布线基板(1)的上面设置电极焊盘(5)和阻焊膜(7),在阻焊膜(7)上形成开口部(7a)以使电极焊盘(5)露出,在半导体元件(2)的下面设置电极(4)。并且,经由凸块(3)将电极(4)连接在电极焊盘(5)上。进而,在布线基板(1)和半导体元件(2)之间的空间中除了凸块(3)和阻焊膜(7)的部分上,设置由树脂构成的底部填充树脂(6)。并且,使得在布线基板(1)和半导体元件(2)之间,阻焊膜(7)的厚度(B)为阻焊膜(7)上的底部填充树脂(6)的厚度(A)以上。另外,使凸块(3)的体积(Vb)小于开口部(7a)的容积(Vs)。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,具有:布线基板,在其表面形成有电极焊盘;半导体元件,被配置在该布线基板上,在其表面形成有电极;凸块,将上述电极连接在上述电极焊盘上;和底部填充树脂,被填充在上述布线基板和上述半导体元件之间,将上述凸块埋入,上述布线基板具有阻焊膜,该阻焊膜被配置在形成有上述电极焊盘一侧的表面上,在该阻焊膜上形成有使上述电极焊盘露出的开口部,在上述布线基板和上述半导体元件之间,除了上述电极焊盘的正上方区域以外的区域中的上述阻焊膜的厚度,为上述区域中的配置在上述阻焊膜上的上述底部填充树脂的厚度以上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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