[发明专利]用于减少热噪声的方法和装置有效

专利信息
申请号: 200580011884.X 申请日: 2005-04-21
公开(公告)号: CN1943115A 公开(公告)日: 2007-04-04
发明(设计)人: 小罗纳德·A·卡普斯塔;中村胜史 申请(专利权)人: 模拟装置公司
主分类号: H03M1/00 分类号: H03M1/00;H03M3/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 杨生平;杨红梅
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 揭示了用于减少存储单元上的总热噪声的方法和装置。本发明的一个实施例涉及一种采样电路,包括用以存储电荷的采样电容器,该采样电容器暴露于环境温度。该采样电路还包括用以将电荷采样到电容器上的电路系统,其中热噪声也被采样到电容器上,以及其中该电路系统被构造为使得采样到电容器上的热噪声的功率小于环境温度和玻尔兹曼常数的乘积除以采样电容器的电容所得的商。本发明的另一实施例涉及一种用于控制被采样到电容器上的热噪声的方法。该方法包括独立控制热噪声谱密度和/或热噪声带宽的步骤。
搜索关键词: 用于 减少 噪声 方法 装置
【主权项】:
1.一种采样电路,包括:用以存储电荷的采样电容器,所述采样电容器暴露于环境温度;以及用以将所述电荷采样到所述电容器上的电路系统,其中热噪声也被采样到所述电容器上,以及其中所述电路系统被构造为使得采样到所述电容器上的所述热噪声的功率小于所述环境温度和玻尔兹曼常数的乘积除以所述采样电容器的电容所得的商。
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