[发明专利]直流测试装置无效
| 申请号： | 200580013459.4 | 申请日： | 2005-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN1947025A | 公开（公告）日： | 2007-04-11 |
| 发明（设计）人： | 田中宏典 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种直流测试装置，是在电子元件上施加直流电压及直流电流而进行测试的直流测试装置，其具备：电力产生部，产生直流电压及直流电流；电流检测电阻，串联设置于电力产生部与电子元件之间；以及电流检测部，根据电流检测电阻两端的电位差而检测直流电流的大小，并且，电流检测部具有：基准电阻，该基准电阻的温度系数小于电流检测电阻者；以及温度补偿部，将电流检测电阻两端的电位差，乘以对应于电流检测电阻的电阻值与基准电阻的电阻值之比的系数，从而检测直流电流的大小。 | ||
| 搜索关键词： | 直流 测试 装置 | ||
【主权项】：
1.一种直流测试装置，是在电子元件施加直流电压及直流电流来进行测试的直流测试装置，其特征在于包括：电力产生部，产生上述直流电压及上述直流电流；电流检测电阻，串联设置于上述电力产生部与上述电子元件之间；以及电流检测部，根据上述电流检测电阻两端的电位差，而检测上述直流电流的大小，并且上述电流检测部包含：基准电阻，该基准电阻的温度系数小于上述电流检测电阻者；以及温度补偿部，将上述电流检测电阻两端的电位差，乘以对应于上述电流检测电阻的电阻值与上述基准电阻的电阻值之比的系数，从而检测上述直流电流的大小。
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