[发明专利]具有附加源/漏绝缘层的共面薄膜晶体管无效
申请号: | 200580013661.7 | 申请日: | 2005-04-26 |
公开(公告)号: | CN1950949A | 公开(公告)日: | 2007-04-18 |
发明(设计)人: | K·R·怀特;I·D·弗伦奇 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/786 | 分类号: | H01L29/786;H01L21/336 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 顾珊;梁永 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 一种共面薄膜晶体管TFT(22)及其制造方法,其中,在源极接触(30)和漏极接触(32)上设置附加绝缘层,并且将该附加绝缘层的第一区域(34)限定为基本占据与源极接触(30)相同面积,该附加绝缘层的第二区域(36)基本占据与漏极接触(32)相同面积。这样趋于减小栅(62)源电容和栅(62)漏电容。在有些结构中,无需任何附加掩模或限定步骤即可实现。 | ||
搜索关键词: | 具有 附加 绝缘 薄膜晶体管 | ||
【主权项】:
1、一种共面薄膜晶体管,TFT,包括:衬底(24);多个半导体层(26,28)和第一金属层,其在衬底(24)上沉积并且限定用于提供沟道区(42),源极接触(30)和漏极接触(32);第一绝缘层,其设置在源极接触(30)和漏极接触(32)上,并且限定为使得第一绝缘层的第一区域(34)基本占据与源极接触(30)相同的面积,第一绝缘层的第二区域(36)基本占据与漏极接触(32)相同的面积;第二绝缘层(46),其设置在沟道区(42)以及第一绝缘层的第一(34)和第二(36)区域上;以及第二金属层,其设置在第二绝缘层(46)上,并且限定用于提供栅极(62)。
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