[发明专利]用于半导体设备测试的双通道电源测量装置有效
| 申请号： | 200580014088.1 | 申请日： | 2005-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN1973206A | 公开（公告）日： | 2007-05-30 |
| 发明（设计）人： | T·赖奇曼;P·P·库伊瓦斯;J·博奇维克;M·A·卡索洛 | 申请（专利权）人： | 夸利陶公司 |
| 主分类号： | G01R1/00 | 分类号： | G01R1/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘红;张志醒 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于电子设备可靠性测试的一种双通道电源测量装置向要测试的设备提供了电压应力刺激并监控由应力模拟装置引起的该设备的退化。该双通道电源测量装置将该装置的应力部分和监控部分去耦以优化对它们各自的要求。可以在该双通道电源测量装置中引入限变器和电流箝位开关以避免开关电路中的假信号并限制或箝位进出监控电源和应力电源的电流。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体设备 测试 双通道 电源 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.用于测试多个电子设备的双通道电源测量装置，包括：监控电源装置，用于提供可编程监控电压，应力电源装置，用于提供可编程应力电压，多个多关，用于有选择性地将多个要测试的电子设备并行切换到应力电源装置，并依次将一个要测试的设备切换到监控电源装置，由此能够对多个要测试的设备施压同时在另一要测试的设备上进行测试测量。
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