[发明专利]传感器、测量装置以及测量方法有效
| 申请号： | 200580014503.3 | 申请日： | 2005-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN1950694A | 公开（公告）日： | 2007-04-18 |
| 发明（设计）人： | 北胁文久;龟井明仁;河村达朗 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01N21/64;G01N27/26;G01N27/27;G01N27/327;G01N27/333;G01N27/416;G01N27/49;G01N33/483;G01N33/493;G01N33/53;G01N33/84 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王小衡;陈景峻 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种能够迅速并准确地测量多个测量项目的传感器，测量装置以及测量方法。该传感器包括，样品保持单元，用于保持包括分析物的样品；样品提供口，用于向样品保持单元提供该样品；检测单元，用于执行电化学测量，该单元被提供在样品保持单元中；光学测量单元，用于执行光学测量，该单元提供在样品保持单元中；试剂保持单元，用于保持试剂用于光学测量，该单元提供在样品保持单元中；其中，在提供自样品提供口的样品在样品保持单元中的流动方向上，样品提供口，检测单元和试剂保持单元按照所述的顺序定位。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种传感器，包含：样品保持单元，用于保持包括分析物的样品；样品提供口，用于向所述样品保持单元提供样品；检测单元，用于执行电化学测量，该检测单元提供在所述样品保持单元中；光学测量单元，用于执行光学测量，该光学测量单元提供在所述样品保持单元中；试剂保持单元，用于保持试剂用于所述光学测量，该试剂保持单元提供在样品保持单元中；其中，在提供自所述样品提供口的所述样品在到所述样品保持单元中的流动方向上，所述样品提供口，所述检测单元和所述试剂保持单元按照所述的顺序定位。
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