[发明专利]光检测装置无效
申请号: | 200580014879.4 | 申请日: | 2005-05-02 |
公开(公告)号: | CN1950684A | 公开(公告)日: | 2007-04-18 |
发明(设计)人: | 水野诚一郎;铃木保博 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01J1/46 | 分类号: | G01J1/46;G01J1/44;H01L31/10;H04N5/335 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种具有可扩大在光检测中的动态范围、同时也可改善S/N比的构造的光检测装置。该光检测装置具有:包含光电二极管的像素、积分电路、CDS电路、选择电路以及切换电路。在光电二极管中所产生的电荷蓄积在积分电路中的积分电容部,且由积分电路输出与该蓄积电荷量相对应的第1电压值V1。CDS电路输入第1电压值,输出与以基准时刻的该第1电压值为基准的该第1电压值的变动份相对应的第2电压值V2。切换电路比较在光电二极管产生的电荷量与其阈值,根据该比较结果,指示设定积分电路中的积分电容部的电容值,同时,指示选择电路选择第1及第2电压值的何者作为输出电压值。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光检测装置,其具有:光电二极管,产生与入射光强度相对应的电荷;积分电路,该积分电路具有电容值可变的积分电容部,将由所述光电二极管产生的电荷蓄积在所述积分电容部,并输出与蓄积在所述积分电容部中的电荷的量相对应的第1电压值;CDS电路,输入由所述积分电路输出的第1电压值,并输出第2电压值,该第2电压值与以基准时刻上的该第1电压值为基准的该第1电压值的变动份相对应;选择电路,同时输入由所述积分电路输出的第1电压值,和由所述CDS电路输出的第2电压值,选择这些电压值中的任意一个,然后将所选择的电压值作为输出电压值输出;以及切换电路,对由所述光电二极管产生的电荷量和其阈值进行比较,根据该比较结果,指示所述积分电路进行所述积分电容部的电容值的设定,同时,指示所述选择电路进行输出电压值的选择,其特征在于,所述切换电路,当由所述光电二极管产生的电荷量为所述阈值以上时,指示所述积分电路,设定所述积分电容部为第1电容值,同时指示所述选择电路,将所述第1电压值作为所选择的输出电压值输出,而且,所述切换电路,当由所述光电二极管产生的电荷量小于所述阈值时,指示所述积分电路将所述积分电容部设定为小于所述第1电容值的第2电容值,同时指示所述选择电路输出所述第2电压值作为所选择的输出电压值。
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