[发明专利]定时发生器以及半导体试验装置无效

专利信息
申请号: 200580015015.4 申请日: 2005-05-06
公开(公告)号: CN1950710A 公开(公告)日: 2007-04-18
发明(设计)人: 越智高志 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R31/3183
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开一种定时发生器(20),其在对应于时钟信号的输入定时而输出输出信号的触发器(基准信号延迟单元)(31)的信号输入输出电路(30)中,不在该触发器(31)的输出端子侧而在时钟信号的输入端子侧设置延迟电路(可变延迟单元、时钟信号延迟电路)(32),并为该时钟信号施加延迟。另外,能够设置相位同步环电路(34),以替代该时钟信号延迟电路。从而能够降低模式依存性抖动,并减少定时发生器中的定时脉冲信号的定时误差。
搜索关键词: 定时 发生器 以及 半导体 试验装置
【主权项】:
1、一种定时发生器,使基准信号以规定时间延迟,并作为定时脉冲信号输出,其特征在于,备有:延迟时间运算单元,其对附加于所述基准信号的延迟时间进行计算;信号输入输出电路,其对应于由该延迟时间运算单元所计算出的所述延迟时间而使所述基准信号延迟,该信号输入输出电路,具有:数据保持电路,其输入所述基准信号,并基于脉冲信号的输入定时输出所述基准信号;时钟信号延迟电路,其基于所述延迟时间使该数据保持电路中的所述时钟信号的输入定时延迟。
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