[发明专利]用于半导体器件测试夹具和测试组件的电连接器有效

专利信息
申请号: 200580015274.7 申请日: 2005-03-16
公开(公告)号: CN1973412A 公开(公告)日: 2007-05-30
发明(设计)人: P·P·库瓦斯 申请(专利权)人: 夸利陶公司
主分类号: H01R13/648 分类号: H01R13/648
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;张志醒
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 互连组件用于连接具有到电子测试设备的多个引线的半导体被测器件(DUT)。互连组件包括电缆,其中包括多条电线,至少一条电线用于发送来自DUT的信号,至少一个电线用于送往DUT的强制信号,以及至少一个电线用于通过与强制信号相同的电位来驱动的保护信号。阳连接器包括多条电线、多条电线周围的外金属涂层以及外金属涂层周围的绝缘涂层。插座连接器用于接纳阳连接器和具有相应触点的多条电线。
搜索关键词: 用于 半导体器件 测试 夹具 组件 连接器
【主权项】:
1.一种为了用于连接具有到电子测试设备的多个引线的半导体被测器件(DUT)的互连组件,包括:a)电缆,其中包括多条电线,至少一条电线用于检测来自DUT的信号,至少一条电线用于送往DUT的强制信号,以及至少一条电线用于通过与所述强制信号相同的电位来驱动的保护信号,b)阳连接器,包括所述多条电线、所述多条电线周围的外金属涂层和所述外金属涂层周围的绝缘涂层,以及c)插座连接器,用于采用相应触点来接纳所述阳连接器和多条电线。
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