[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 200580015902.1 申请日: 2005-05-19
公开(公告)号: CN1954429A 公开(公告)日: 2007-04-25
发明(设计)人: 竹村理一郎;黑土健三;河原尊之 申请(专利权)人: 株式会社瑞萨科技
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;G11C13/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体器件。例如,与位线(BL)平行地配置多个扩散层(L),在扩散层(L)之间与位线(BL)交替地配置栅极(G),对在位线(BL)方向排列的多个扩散层(L),按照每个扩散层(L)交叉地配置位线接触件(BC)和源极节点接触件(SC),在源极节点接触件(SC)上设置相变元件,从而由2个存储单元晶体管(Q1、Q2)和1个相变元件构成1个存储单元(MC)。另外,相变元件也能够不设置在源极节点接触件(SC)上而设置在位线接触件(BC)上。由此,例如能够实现存储单元晶体管的驱动能力的提高和面积的减小等。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,包括:位线;配置在上述位线延长方向的第1晶体管和第2晶体管;以及利用电阻保持信息的存储元件,所述半导体器件的特征在于:上述第1晶体管的第1节点、上述第2晶体管的第1节点和上述存储元件的一端公共连接,上述第1晶体管的第2节点和上述第2晶体管的第2节点分别独立地连接在上述位线。
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