[发明专利]开发用于半导体集成电路的测试程序的方法和结构无效
| 申请号： | 200580016437.3 | 申请日： | 2005-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN1981200A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 安康·普拉马尼克;马克·埃尔斯顿;拉马钱德兰·克里希纳斯瓦米;足立敏明 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/3183 | 分类号： | G01R31/3183;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 杨生平;杨红梅 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 公开了开发用于半导体测试系统的测试程序的方法。该方法包括以测试程序语言(TPL)描述测试计划文件，其中该测试计划文件描述测试程序的至少一个测试；以系统程序语言(SPL)描述测试类文件并以TPL描述该测试类文件的相应的预编译头文件，其中该测试类文件描述测试程序的至少一个测试的实施；以及使用测试计划文件、测试类文件和预编译头文件来生成测试程序。 | ||
| 搜索关键词： | 开发 用于 半导体 集成电路 测试 程序 方法 结构 | ||
【主权项】：
1.一种开发用于半导体测试系统的测试程序的方法，所述测试系统包括至少一个测试模块，用于根据所述测试程序对被测设备施加至少一个测试，包括：以测试程序语言(TPL)描述测试计划文件，其中测试计划文件描述所述测试程序的至少一个测试；以系统程序语言(SPL)描述测试类文件且以TPL描述所述测试类文件中相应的预编译头文件，其中测试类文件描述所述测试程序中至少一个测试的实现；以及使用测试计划文件、测试类文件和预编译头文件生成测试程序。
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