[发明专利]竖直堆叠的半导体器件无效

专利信息
申请号: 200580016529.1 申请日: 2005-03-23
公开(公告)号: CN1957462A 公开(公告)日: 2007-05-02
发明(设计)人: K·C·切鲁库瑞;W·J·维格斯 申请(专利权)人: 德克萨斯仪器股份有限公司
主分类号: H01L23/02 分类号: H01L23/02;H01L21/48;H01L23/48;H01L23/34;H01L21/44;H02G3/08
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵蓉民;薛峰
地址: 美国德*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明描述了一种半导体器件40,其包括互连在一个衬底上的半导体芯片401、402的竖直组件,所述衬底具有一个或多个金属支座41,金属支座41在每个支撑芯片401和下一个相继的竖直堆叠芯片402之间提供了固定间距。该器件的制造是通过在每个支撑芯片的钝化层顶上图案化铝岛,并同时进行加工以形成接合垫帽来实现的。该制造工艺不需要额外的成本,并具有以晶片形式进行加工以为多个芯片提供支座的优点,从而避免了额外的组装成本。此外,这些支座改善了器件的散热,并且提供了均匀稳定的接合表面,以便使每个所述芯片被引线接合到所述衬底。
搜索关键词: 竖直 堆叠 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,其包括:一个具有导电互联的衬底;位于所述衬底上的两个或多个竖直堆叠的芯片,每个支撑芯片具有位于其上的金属支座,以将该支撑芯片与下一个相继的芯片间隔开;以及多条接合引线,其将至少一个芯片连接到所述衬底。
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