[发明专利]光学数据载体的质量测试方法无效

专利信息
申请号: 200580016534.2 申请日: 2005-05-20
公开(公告)号: CN1957401A 公开(公告)日: 2007-05-02
发明(设计)人: M·内克马 申请(专利权)人: 欧迪奥德弗股份公司
主分类号: G11B7/0037 分类号: G11B7/0037;G11B20/18
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 代理人: 周建秋;王凤桐
地址: 瑞典*** 国省代码: 瑞典;SE
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摘要: 公开了一种测试光碟的总体质量的方法,所述光碟是以定义多个同心轨道的螺旋或者环形图案的形式存储光学可读信息的类型。当来自碟片播放器的激光头的信号低于某个阈值时,表示激光头被锁定到某个轨道,测量在沿轨工作模式中进行。当在沿轨模式中接收到统计上足够的数据时在碟片的径向上执行跳越。在跳越过程中,在离轨模式中评测碟片质量。通过重复这些步骤,相比于现有方法或者设备,整个碟片的质量可以更加快速并且独立于碟片的偏心率地进行评测。
搜索关键词: 光学 数据 载体 质量 测试 方法
【主权项】:
1.一种对光学碟片(1)进行质量测试的方法,所述碟片(1)是以定义多个同心轨道(3)的螺旋或者环形图案(2)的形式存储光学可读信息的类型,其特征在于,该方法包括以下步骤:将所述碟片(1)旋转以通过具有用于碟片(1)的读取设备的碟片播放器在不同工作模式中光学读取所述碟片(1),以及为了对所述碟片(1)进行质量测试,间断交替执行以下步骤:a)在所述读取设备的沿轨工作模式中至少部分读取所述螺旋或者环形图案(2)的至少一个第一轨道,以确定沿轨质量参数,以及b)在所述碟片(2)的半径方向上执行跳越,并且同时在跳越期间在离轨测量工作模式中分析所述碟片(1),以确定离轨质量参数。
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