[发明专利]用于确定分开的中性电极的两个分电极之间的过渡阻抗的方法和测量设备有效

专利信息
申请号: 200580016774.2 申请日: 2005-05-20
公开(公告)号: CN1956683A 公开(公告)日: 2007-05-02
发明(设计)人: 弗洛里安·艾泽勒 申请(专利权)人: 爱尔伯电子医疗设备公司
主分类号: A61B18/12 分类号: A61B18/12;A61B18/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 杨生平;杨红梅
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用于确定在高频外科手术中被细分的中性电极(8)的两个分电极(4,6)之间的过渡阻抗的方法和测量设备(2)。通过本发明可以测量过渡阻抗的纯电容性分量。为此测量谐振频率偏移,当基本谐振电路(24)通过与两个分电极(4,6)并联扩展成扩展谐振电路(25)时出现该谐振频率偏移。特别的是,为了确定基本谐振电路(24)的基本谐振频率和/或扩展谐振电路(25)的样本谐振频率,测量电流与电压之间的相位偏移并且调节频率直到电流和电压同相。
搜索关键词: 用于 确定 分开 中性 电极 两个 之间 过渡 阻抗 方法 测量 设备
【主权项】:
1、一种方法,用于确定高频外科手术中所使用的、被分开的中性电极(8)的两个分电极(4,6)之间的过渡阻抗,其特征在于确定所述过渡阻抗的纯电容性分量,为了该目的在谐振电路(24,25)中测量谐振频率偏移,所述偏移通过将两个所述分电极并联地合并进所述谐振电路中来确定。
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