[发明专利]发射机的负载阻抗不良检测系统无效

专利信息
申请号: 200580016814.3 申请日: 2005-05-25
公开(公告)号: CN1957550A 公开(公告)日: 2007-05-02
发明(设计)人: 米山祐三 申请(专利权)人: 日本电气株式会社
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00;H04B1/04;H04B7/26
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 王怡
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明是一种CDMA系统的基站发射机中的负载阻抗不良检测系统,其包括基带信号发生部(101)和用于检测反射信号的反射信号监视部(106)。CPICH功率检测部(111)检测从来自反射信号部的发射信号中检测CPICH功率。回波损耗判定部(112)根据CPICH功率检测部检测的CPICH功率值和从基带信号发生部给出的CPICH发射功率设定值(113)之差来判定回波损耗,当回波损耗超过预先确定的阈值时,判定为负载阻抗不良。
搜索关键词: 发射机 负载 阻抗 不良 检测 系统
【主权项】:
1.一种负载阻抗不良检测系统,是包括基带信号发生部和用于检测反射信号的反射信号监视部的、CDMA系统的基站发射机中的负载阻抗不良检测系统,其特征在于,包括:功率检测部,从来自所述反射信号监视部的反射信号中检测预先确定的信道的功率;以及回波损耗判定部,根据用所述功率检测部检测出的功率值和从所述基带信号发生部给出的所述预先确定的信道的功率设定值之差来判定回波损耗,当所述回波损耗超过预先确定的阈值时,判定为负载阻抗不良。
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