[发明专利]pn结型化合物半导体发光二极管无效
申请号: | 200580018500.7 | 申请日: | 2005-05-06 |
公开(公告)号: | CN1969394A | 公开(公告)日: | 2007-05-23 |
发明(设计)人: | 小田原道哉;宇田川隆 | 申请(专利权)人: | 昭和电工株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;李峥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 在一种设置在晶体衬底上的至少具有作为发光层的由III族氮化物半导体形成的n型有源层以及在所述n型有源层上的包含p型杂质的III族氮化物半导体层的p-n结型化合物半导体发光二极管中,所述二极管具有沉积在所述包含p型杂质的III族氮化物半导体层上的室温下其带隙超过形成所述n型有源层的所述III族氮化物半导体的带隙且在未掺杂状态下呈现p型导电性的磷化硼基III-V族化合物半导体层,并且具有接合到所述磷化硼基III-V族化合物半导体层的表面的欧姆正电极。 | ||
搜索关键词: | pn 化合物 半导体 发光二极管 | ||
【主权项】:
1.一种设置在晶体衬底上的pn结型化合物半导体发光二极管,其至少具有作为发光层的由III族氮化物半导体形成的n型有源层以及在所述n型有源层上的包含p型杂质的III族氮化物半导体层,所述二极管具有沉积在所述包含p型杂质的III族氮化物半导体层上的室温下其带隙超过形成所述n型有源层的所述III族氮化物半导体的带隙且在未掺杂状态下呈现p型导电性的磷化硼基III-V族化合物半导体层,并且具有接合到所述磷化硼基III-V族化合物半导体层的表面的欧姆正电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于昭和电工株式会社,未经昭和电工株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580018500.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电极接头锁定系统
- 下一篇:以氮和从天然气中获得的氢为基础生产氨的方法