[发明专利]用于测试集成电路的测试方法和测试装置无效
| 申请号： | 200580018859.4 | 申请日： | 2005-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN1965242A | 公开（公告）日： | 2007-05-16 |
| 发明（设计）人： | R·布赫纳;C·埃布纳;S·莫泽尔;P·劳舍尔;A·福伊格特莱恩德 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘春元;魏军 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 提供了用于测试集成电路的一种测试方法和一种测试装置，其中，在测试装置中舍弃了在硬件技术上配备边界扫描单元。相反地，根据本发明通过边界扫描程序来模拟边界扫描单元。通过采用边界扫描程序来履行边界扫描单元链的和TAP接口的全部功能性，该边界扫描程序通过可控制集成电路的、程控的控制装置来实施。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.用于根据边界扫描描述来测试集成电路(1)的测试方法，所述边界扫描描述具有至少一个边界扫描程序、所述集成电路(1)的硬件技术上的线路图、和测试样式，其中，所述的集成电路(1)具有存储器(3)和多个管脚(4)，并且借助程控的控制装置(2)可以进行控制，该测试方法具有以下的步骤：-将构成边界扫描单元链的模拟的边界扫描程序，通过至少一个预先确定的管脚(4)装载到所述的存储器(3)中；-读出所存储的边界扫描程序，和启动所存储边界扫描程序的实施；-将根据边界扫描描述的测试样式施加到预先确定的管脚(4)上；以及-分析在所述管脚(4)上的在实施所存储的边界扫描程序之后所产生的状态。
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