[发明专利]皮拉尼真空计有效
| 申请号： | 200580019399.7 | 申请日： | 2005-11-07 |
| 公开（公告）号： | CN1969175A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 宫下刚;高桥直树 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱发科 |
| 主分类号： | G01L21/12 | 分类号： | G01L21/12 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 何腾云 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种皮拉尼真空计，可提高细丝温度对气体压力变动的依存度，以良好的精度测量气体压力。本发明的皮拉尼真空计具备：包封体(2)，内部面向被测量空间(s)；细丝(1)，收容在该包封体2内部；以及筒(7)，在包封体(2)内部包围细丝(1)而设置，且夹着细丝(1)相对向的内壁间的最小距离为6mm以内，并覆盖细丝(1)长度的80％以上。 | ||
| 搜索关键词： | 皮拉尼 真空计 | ||
【主权项】：
1.一种皮拉尼真空计，其特征为，具备：包封体，内部面向被测量空间；细丝，收容在所述包封体的内部；以及筒，在所述包封体内部设成包围所述细丝，夹着所述细丝相对向的内壁间的最小距离为6mm以内，且覆盖所述细丝长度的80％以上。
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