[发明专利]用于测量负偏置温度不稳定性的系统和方法

摘要

根据本发明一个实施例的集成电路包括耦合到第一环形振荡器模块的第一受测器件(DUT)模块和耦合到第二环形振荡器模块的第二DUT模块。第一DUT模块在第一模式期间被偏置从而生成界面阱。所生成的界面阱造成第一DUT模块的第一驱动电流减少。第二受测器件模块在第一模式期间被偏置以维持参考驱动电流。第一环形振荡器模块的工作频率在第二模式期间是第一驱动电流的函数。第二环形振荡器模块的工作频率在第二模式期间是参考驱动电流的函数。该集成电路还可以包括用于根据第一环形振荡器模块的工作频率和第二环形振荡器模块的工作频率之间的差值来生成输出信号的比较器模块。

主权项

1.一种集成电路，包括：第一受测器件模块，在第一模式期间被偏置，其中所生成的界面阱造成第一驱动电流减少；第二受测器件模块，在所述第一模式期间被偏置以维持参考驱动电流；第一环形振荡器模块，耦合到所述第一受测器件模块，用于在第二模式期间生成第一振荡器信号，其中所述第一振荡器信号的工作频率是所述第一驱动电流的函数；以及第二环形振荡器模块，耦合到所述第二受测器件模块，用于在第二模式期间生成第二振荡器信号，其中所述第二振荡器信号的工作频率是所述参考驱动电流的函数。