[发明专利]使用微电阻率装置获得浅Rxo和深方位地层电阻率无效
| 申请号： | 200580020274.6 | 申请日： | 2005-05-05 |
| 公开（公告）号： | CN1969200A | 公开（公告）日： | 2007-05-23 |
| 发明（设计）人： | 安东尼奥·发勃利斯;拉什德·卡霍卡哈尔 | 申请（专利权）人： | 贝克休斯公司 |
| 主分类号： | G01V3/02 | 分类号： | G01V3/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 秦晨 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种电阻率测井工具，包括一个或多个衬垫(307a、307b、307c、307d)用于进行地层的方位电阻率测量。测量来自衬垫(307a、307b、307c、307d)、屏蔽电极(331b、331c、331b′、331c′)和测量电极的电流，同时监视各对监视电极(321a、321b、321a′、321b′)之间的电压差。此外，在衬垫上提供微电极(309a、309b)以得到高分辨率电阻率测量。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 电阻率 装置 获得 rxo 方位 地层 | ||
【主权项】：
1.一种对地层的感兴趣参数进行测量的装置，包括：(a)细长的本体；(b)在该本体上的第一屏蔽电极；(c)第二屏蔽电极，包括至少一个导电衬垫，通过扩展装置与该细长本体机械耦合，该至少一个导电衬垫处于与本体的相邻部分基本相同的电位。
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