[发明专利]在高频基础上确定材料厚度的方法和装置无效
| 申请号： | 200580022009.1 | 申请日： | 2005-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN1977143A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | M·马勒;U·霍夫曼;R·克拉普夫;C·维兰;F·维韦尔斯 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/06 | 分类号： | G01B7/06 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘春元;魏军 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于透过物质确定材料厚度的方法、特别是用于测量墙壁、天花板和地板的厚度的方法，在该方法中借助于一个高频发射机(24)在GHz频率范围内的测量信号(28)至少一次穿过要检查的物质(10)并且由高频接收机(38)检测该测量信号(28)。根据本发明建议，从在高频发射机(24)和/或高频接收机(34)的不同位置(20、22)上测量的、测量信号的至少两个渡越时间中确定物质(10)的材料厚度(d)。此外本发明涉及用于实施上述方法的设备系统(12；40、140、240、340、)。 | ||
| 搜索关键词： | 高频 基础上 确定 材料 厚度 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.用于透过物质确定材料厚度的方法、特别是用于测量墙壁、天花板和地板的厚度的方法，其中，借助于一个高频发射机(24)使在GHz频率范围内的测量信号(28)至少一次穿过有待检查的物质(10)并且由高频接收机(38)检测该测量信号(28)，其特征在于，从在高频发射机(24)和/或高频接收机(34)的不同位置(20、22)上测量的、测量信号的至少两个渡越时间中确定物质(10)的材料厚度(d)。
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