[发明专利]测试IC中的管线无效
| 申请号： | 200580022913.2 | 申请日： | 2005-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN1981201A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | K·范卡姆;P·维拉格 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 康正德;魏军 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种测试集成电路中的管线(14)的结构，包括输入端口和输出端口，并可用于处理具有多个数据位的数据字。该结构包括设置在管线(14)的输入端口的每个输入处的多路复用器(18)，每个多路复用器可用于允许数据位或者测试数据位输入到管线。在操作的正常或者测试模式中，写测试块(15)可用于控制将数据位或者测试数据位写入到管线(14)中，以及在操作的正常或者测试模式中，读测试块(16)可用于控制从管线读出数据位或者测试数据位。在测试模式中写测试块(15)和读测试块(16)可用于将管线(14)作为扫描链控制。该结构比常规测试结构需要更少的硬件以及因此需要更少的硅区域。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 ic 中的 管线 | ||
【主权项】：
1、一种测试集成电路中的管线(14)的结构，该管线(14)具有输入端口和输出端口，并可用于处理具有多个数据位的数据字，该结构包括：设置在管线(14)的输入端口的每个输入处的多路复用器(18)，每个多路复用器可用于使得数据位(wr_data)或者测试数据位(si)能够输入该管线；写测试块(15)，用于在操作的正常或者测试模式期间，控制数据位或者测试数据位向管线的写入；读测试块(16)，用于在操作的正常或者测试模式期间，控制数据位或者测试数据位从管线的读出；其中在测试模式中写测试块(15)和读测试块(16)可用于将控制管线(14)作为扫描链来控制。
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