[发明专利]用于测量玻璃平板垂度的方法无效
| 申请号： | 200580023770.7 | 申请日： | 2005-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN1985148A | 公开（公告）日： | 2007-06-20 |
| 发明（设计）人： | T·扬胡宁 | 申请（专利权）人： | 坦格拉斯有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;C03B23/025 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光;李峥 |
| 地址： | 芬兰*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量在环形模具(4)上弯曲玻璃平板(6)的过程中玻璃平板(6)垂度的方法。该方法包括，在玻璃平板的测量点测量垂度，并将测量数据应用于弯曲工序的控制过程，特别是玻璃平板(6)的加热或弯曲工序的中止。建立相对于环形模具(4)固定的参考平面(5a、5b)，用测距仪(7，70)测量参考平面(5a、5b)与测距仪(7、70)之间的距离，用测距仪(7，70)测量玻璃平板(6)测量点与测距仪(7、70)之间的距离。通过比较参考平面(5a、5b)与测距仪(7、70)之间的距离以及玻璃平板(6)测量点与测距仪(7、70)之间的距离确定玻璃平板(6)的垂度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 玻璃 平板 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量在环形模具(4)上弯曲玻璃平板(6)的工序中该玻璃平板(6)的垂度的方法，所述方法包括，建立相对于所述环形模具(4)静止或位置固定的参考平面(5a、5b)，以及在玻璃平板的测量点测量垂度，并将测量数据应用于所述弯曲工序的控制过程，特别是所述玻璃平板(6)的加热或所述弯曲工序的中止，其特征在于：用包括发射激光脉冲的发射器和接收激光脉冲的接收器的测距仪(7、70)，通过确定激光脉冲(7a)从发射器至接收器的传输时间，来测量所述参考平面(5a、5b)与所述测距仪(7、70)之间的距离；通过确定激光脉冲(7a)从发射器至接收器的传输时间，用测距仪(7，70)测量所述玻璃平板(6)的测量点与所述测距仪(7、70)之间的距离，并且，通过比较所述参考平面(5a、5b)与所述测距仪(7、70)之间的距离以及所述玻璃平板(6)的测量点与所述测距仪(7、70)之间的距离来确定所述玻璃平板(6)的垂度。
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