[发明专利]借助测量光谱与参照光谱的互相关来测定均匀分布在介质中的化学物质的存在的方法

摘要

本发明涉及一种测定均匀分布在介质中的至少一种化学物质V′的同一性或非同一性的方法，其通过：a)将含有至少一种均匀分布的化学物质V′的介质曝露于具有可变波长λ的分析辐射中，和b)借助吸收、反射、发射和/或散射的辐射来确定光谱测量函数I′(λ)。本发明方法特征在于根据方程式I确定相关函数K(δλ，c′，c)，其中K(δλ，c′，c)表示取决于函数I′(λ，c′)和I(λ，c)的相对位移δλ及至少一种化学物质V′及V的浓度c′及c的相关性；c′表示均匀分布在介质中的具有已知或待定同一性的至少一种化学物质V′的浓度；c表示均匀分布在介质中的具有已知同一性的至少一种化学物质V的浓度，I′(λ，c′)表示具有浓度c′的至少一种均匀分布在介质中的化学物质V′的测量函数，I(λ，c)表示具有浓度c的至少一种均匀分布在介质中的化学物质V的比较函数，和N表示标准化因子，并借助相关函数K(δλ，c′，c)测定化学物质V′与V之间的同一性或非同一性。

主权项

1.一种测定均匀分布在介质中的至少一种化学物质V′的同一性或非同一性的方法，其通过：a)将含有至少一种均匀分布的化学物质V′的介质曝露于具有可变波长λ的分析辐射中，和b)借助吸收、反射、发射和/或散射的辐射来确定光谱测量函数I′(λ)，其中根据方程式I确定相关函数K(δλ，c′，c)：$K(\mathrm{\delta \lambda },c\text{'},c)=1/N·\underset{-\infty }{\overset{+\infty }{\int }}I\text{'}(\lambda ,c\text{'})·I(\lambda +\mathrm{\delta \lambda },c)\mathrm{d\lambda }---\left(I\right)$ 其中K(δλ，c’，c)表示取决于函数I′(λ，c′)和I(λ，c)的相对位移δλ及至少一种化学物质V′及V的浓度c′及c的相关性，c′表示均匀分布在介质中的具有已知或待定同一性的至少一种化学物质V′的浓度，c表示均匀分布在介质中的具有已知同一性的至少一种化学物质V的浓度，I′(λ，c′)表示具有浓度c′的至少一种均匀分布在介质中的化学物质V′的测量函数，I(λ，c)表示具有浓度c的至少一种均匀分布在介质中的化学物质V的比较函数，和N表示标准化因子，并借助相关函数K(δλ，c’，c)测定化学物质V′与V之间的同一性或非同一性。