[发明专利]确定透平叶片内缺陷的方法和设备有效
| 申请号： | 200580025012.9 | 申请日： | 2005-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN101027552A | 公开（公告）日： | 2007-08-29 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·克劳森－冯兰肯舒尔茨;迈克尔·奥普海斯 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01N29/11 | 分类号： | G01N29/11;G01N29/22;G01N29/28;G10K11/34;G01S15/89;F01D21/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 郝俊梅;杨梧 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种确定透平叶片(7)内缺陷的方法和测量及计算装置(21)以及一种用于将探头(18)固定在透平叶片表面(13)上的固定装置(14)。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 透平 叶片 缺陷 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种确定透平叶片(7)内缺陷的方法，其特征在于下列步骤，-将探头(18)固定在透平叶片表面(13)上，-连接探头与测量及计算装置(21)，-采用群辐射器(相阵列)超声探测法测量，其中放射超声脉冲信号以及接收源于在缺陷或轮廓形状边界上反射的回波信号，-将回波信号与一个基准回波信号比较，-通过计算回波信号与基准回波信号之间的差别确定缺陷。
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