[发明专利]晶片检验用各向异性导电性连接器及其制造方法和其应用无效

专利信息
申请号: 200580025046.8 申请日: 2005-08-26
公开(公告)号: CN1989606A 公开(公告)日: 2007-06-27
发明(设计)人: 木村洁;原富士雄 申请(专利权)人: JSR株式会社
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01R11/01;G01R1/06;G01R1/073
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 杜日新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种晶片的被检验电极即使以小间距高密度加以配置,也能可靠地达到所需的电气连接,可能以低成本制造的晶片检验用各向异性导电性连接器和其制造方法及其应用。本发明的连接器包括与晶片上被检验电极所配置的电极区域对应形成了多个开口的框架板、和象堵塞该开口一样配置的多个弹性各向异性导电膜,弹性各向异性导电膜是这样得到的:与被检验电极对应配置的沿厚度方向伸长的多个连接用导电部,用绝缘部相互进行绝缘、通过激光加工被脱模性支承板上支承的导电性弹性体层,使之形成多个连接用导电部、使连接用导电部浸入到象堵塞框架板开口一样形成的液状绝缘部用材料层中,硬化处理绝缘部用材料层。
搜索关键词: 晶片 检验 各向异性 导电性 连接器 及其 制造 方法 应用
【主权项】:
1.一种晶片检验用各向异性导电性连接器的制造方法,包括与配置了作为检验对象晶片上所形成的全部或一部分集成电路的被检验电极的电极区域相对应地形成了多个开口的框架板、和象堵塞该框架板的各个开口一样配置的多个弹性各向异性导电膜,上述弹性各向异性导电膜各自具有与上述晶片上所形成的集成电路被检验电极相对应配置的在弹性高分子物质中含有呈现磁性的导电性粒子的沿厚度方向伸长的多个连接用导电部、和由使这些连接用导电部相互绝缘的弹性高分子物质构成的绝缘部,其特征是:通过激光加工为脱模性支承板上所支承的弹性高分子物质中含有呈现磁性的导电性粒子的导电性弹性体层,在该脱模性支承板上形成多个连接用导电部,把该脱模性支承板上形成的连接用导电部,各自浸入象堵塞框架板开口一样形成的、硬化并变成弹性高分子物质的液状高分子物质形成材料构成的绝缘部用材料层中,在此状态下通过硬化处理上述绝缘部用材料层而形成绝缘部的工序。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于JSR株式会社,未经JSR株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580025046.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top