[发明专利]用于检测由多孔板的孔中的发色团基元发出的荧光的设备无效
| 申请号： | 200580025397.9 | 申请日： | 2005-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN101002083A | 公开（公告）日： | 2007-07-18 |
| 发明（设计）人： | 克洛德·韦斯比什;马克西姆·拉捷;乔治·奥利维尔·雷蒙德;乌塔伊·舒马内 | 申请（专利权）人： | 热内瓦韦公司 |
| 主分类号： | G01N21/77 | 分类号： | G01N21/77;B01L3/00;G01N21/64 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王琼 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种用于检测由容纳在多孔板的孔中的发色团基元发出的荧光的设备，所述设备包括集成在板(10)的孔(12)的透明底部中的装置，用于限制光束在孔中的穿透长度，所述光束用于激发固定在孔的底部(14)上的发色团基元(38)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 多孔 中的 发色团基元 发出 荧光 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测由容纳在多孔板(10)的孔(12)中的发色团基元(38)发出的荧光的设备，所述设备包括：用于通过光束激发发色团基元的装置，所述光束穿过孔(12)的透明底部(14)；用于限制每个孔中的这样的区域的装置，所述激发光束(22)穿过所述区域到达位于所述孔的透明底部(14)上的一薄层，从而仅激发所述薄层中存在的那些发色团基元(38)；和用于拾取由发色团基元(38)响应于所述激发所发出的并且穿过所述底部的荧光的装置，所述设备的特征在于：每个孔(12)的透明底部(14)包括位于它的内表面上的波导(54)，波导(54)的芯部容纳响应于光激发而发出照射的组分(56)，所述发射出的光为上述发色团基元(38)的激发波长，并且上述激发装置以组分(56)的激发波长的波长发出照射，所述光朝着所述波导被引导穿过孔(12)的透明底部(14)。
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