[发明专利]减少聚合反应器结垢的方法与系统有效

专利信息
申请号: 200580026069.0 申请日: 2005-08-23
公开(公告)号: CN101432066A 公开(公告)日: 2009-05-13
发明(设计)人: B·M·肖;J·D·霍托维;D·A·泽勒斯 申请(专利权)人: 切夫里昂菲利普化学有限责任公司
主分类号: B01J19/10 分类号: B01J19/10;B01J19/18;B01J19/24
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 龙传红
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 提供在聚合反应器内防止反应器结垢的技术。提供限制聚合物粒度以防止或限制与大的聚合物颗粒有关的反应器结垢发生的技术。还提供在反应器的一个或多个局部热点处测量反应器温度并基于这些温度测量结果控制聚合反应的技术。特别地,反应的控制可基于最热的温度,以便反应器内最热的温度维持在反应器结垢曲线内。还讨论了通过使用统计分析如周期图线分析以确定即将发生的结垢的前导指示从而预测反应器结垢的技术。可基于确认这种前导指示采取预防性措施。另外,可使用统计分析来确认结垢倾向较小的催化剂。
搜索关键词: 减少 聚合 反应器 结垢 方法 系统
【主权项】:
1. 一种操作聚合反应器的方法,该方法包括下述步骤:在反应器内循环单体和催化剂;在催化剂上聚合单体,形成多个聚合物颗粒;针对反应器结垢预测指示的存在分析随时间获得的一组反应器操作数据;和若检测到预测指示,则调节一个或多个反应条件。
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