[发明专利]NC工作机械的正圆加工方法以及正圆加工装置有效
| 申请号： | 200580026094.9 | 申请日： | 2005-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN101022917A | 公开（公告）日： | 2007-08-22 |
| 发明（设计）人： | 菅田秦介;村上邦彦 | 申请（专利权）人： | 报国株式会社 |
| 主分类号： | B23Q15/04 | 分类号： | B23Q15/04;G05B19/404;B23Q17/22 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李贵亮 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及正圆加工方法以及正圆加工装置，其将主轴的加工轨迹(21)分割为多个测量点，测量从正圆(20)的中心(24)到各测量点的主轴的加工轨迹(21)的长度，比较该测量值和正圆(20)的半径长度，计算各测量点的离正圆(20)的偏移量(D1、D2)。以相对于正圆对称的方式在正圆(20)的半径方向上转印该偏移量(D1、D2)，从而求出转印位置(28、28A)。然后，作为用于修正偏移量(D1、D2)的修正值，在NC加工程序中并入从各测量点间的转印位置的差分得到的X轴增量以及Y轴增量、或各测量点的转印位置的X轴绝对值以及Y轴绝对值，按照该程序进行正圆加工。 | ||
| 搜索关键词： | nc 工作 机械 加工 方法 以及 装置 | ||
【主权项】：
1.一种NC工作机械的正圆加工方法，其根据NC加工程序，利用控制主轴的动作的NC工作机械而通过轮廓加工来进行正圆加工，其特征在于，将主轴的加工轨迹分割为多个测量点，通过计测器测量从正圆的中心到各测量点的主轴的加工轨迹的长度，比较所述计测器的测量值和正圆的半径长度，计算各测量点的主轴的加工轨迹相对正圆的偏移量，基于所述偏移量，计算用于修正各测量点的主轴的加工轨迹的修正值，将该修正值并入所述NC加工程序，通过根据所述NC加工程序控制主轴的动作，从而进行正圆加工。
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