[发明专利]存储器位线的段隔离有效

专利信息
申请号: 200580026474.2 申请日: 2005-06-24
公开(公告)号: CN1993766A 公开(公告)日: 2007-07-04
发明(设计)人: 詹姆士·M·斯比格特罗丝;乔治·L·埃斯皮纳;布鲁斯·L·莫顿 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G11C16/04 分类号: G11C16/04;G11C7/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 穆德骏;黄启行
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 单一的存储器阵列(10)具有隔离电路,用于使相同的位线的段(Seg1 BL0、Seg2 BL0)相互隔离。隔离电路(16)允许在擦除阵列的一个段(14)的存储器单元的同时,读取位于阵列的另一个段(12)中的存储器单元。在一个示例中,在读取或编程位于第二段(Seg2 BL0)上的存储器单元的过程中,隔离电路(16)使段电气耦合。当擦除单一的存储器阵列的一部分时,存储在相同阵列中的编程信息总是可存取的。当使用多个隔离电路产生多于两个阵列段时,出现了隔离位线段的尺寸的动态变化。
搜索关键词: 存储器 隔离
【主权项】:
1.一种存储器,包括:位线,其包括第一段和第二段;第一存储器单元,其位于第一段上;第二存储器单元,其位于第二段上;和隔离电路,所述第一段经由所述隔离电路选择性地耦合到所述第二段。
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