[发明专利]用于生产DNA芯片的方法和系统、用于检测杂交的方法和系统和用于基质处理的设备和方法无效
| 申请号： | 200580026530.2 | 申请日： | 2005-08-04 |
| 公开（公告）号： | CN1993617A | 公开（公告）日： | 2007-07-04 |
| 发明（设计）人： | 真峰隆义;坂本安广 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G01N33/53 | 分类号： | G01N33/53;C12M1/00;C12M1/40;C12Q1/68;G01N21/64;G01N21/78;G01N33/566;G01N35/04;G01N37/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 郭定辉;黄小临 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供能够在短时间内有效地执行杂交并获得高精确检测结果的DNA芯片相关的技术。通过使用包含具有至少一个作为杂交区域的反应区域R检测单元(3)和配置来以便将电场施加到在反应区域R中积累或保持的媒质的相反电极(E1－E2等)的盘形基质(1)或DNA芯片(10)，并且通过施加由相反电极形成的电场，可以将检测核酸D固定在检测表面U，将检测核酸D与目标核酸T杂交，并且清除过剩物质B，由此在短时间内有效地执行杂交并获得高精度的检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 生产 dna 芯片 方法 系统 检测 杂交 基质 处理 设备 | ||
【主权项】：
1.一种由具有检测元件的基质生产DNA芯片的方法，其中在每个检测元件上配有用于杂交的至少一个反应区域以及布置来以便将电场施加到在所述反应区域中保持的媒质的相反电极，所述方法包括步骤：(1)对所述基质执行表面处理；(2)通过所述相反电极将电场施加到所述反应区域中保持的、包含之前准备的核酸探针的媒质上，由此将所述核酸探针固定到所述电极表面上；和(3)从所述反应区域中清除过剩的核酸探针。
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