[发明专利]基板处理装置、使用状况确认方法、以及不当使用防止方法有效
申请号: | 200580027056.5 | 申请日: | 2005-08-10 |
公开(公告)号: | CN101019207A | 公开(公告)日: | 2007-08-15 |
发明(设计)人: | 铃木博之;沖田晋一;山口正志 | 申请(专利权)人: | 尼康股份有限公司;尼康制度股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;G05B19/418;G03F7/20;H01L21/02;G06F21/22 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 能确认基板处理装置是否被不当使用,若有不当使用的事实时,能防止该不当使用。授权档案LF,是将授权资讯L予以加密的档案,授权资讯L包含对基板处理装置的特定使用者的使用条件。整合性确认程式P2,是确认以解密程式P1解密后的授权档案LF的内容,与从基板处理装置所得的装置资讯DI、网络资讯NI、及现在时刻CT的整合性,来确认有无不当使用的事实。若有不当使用时,根据整合性确认程式P2的资讯,由控制程式P3停止基板处理装置的动作,直到实施既定处置为止。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 使用 状况 确认 方法 以及 不当 防止 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理装置,用以处理基板,其特征在于,具备:授权资讯记忆机构,是储存作为对该基板处理装置的特定使用者的使用条件(含该基板处理装置的停止时间)的授权资讯;以及确认机构,是根据该授权资讯记忆机构中所储存的该授权资讯与来自计时机构的计时资讯,来确认该基板处理装置的使用状况;该确认机构,是根据该授权资讯与来自该计时机构的计时资讯,依据该基板处理装置的停止时间是否有超过该停止期间,来确认该基板处理装置的使用状况。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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