[发明专利]用于辐射检测器的防散射格栅无效
申请号: | 200580027280.4 | 申请日: | 2005-08-08 |
公开(公告)号: | CN101002109A | 公开(公告)日: | 2007-07-18 |
发明(设计)人: | G·泽特勒;G·沃格特梅尔;K·J·恩格尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/164 | 分类号: | G01T1/164;G01T7/00;G01T1/29 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 原绍辉 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 本发明涉及带有吸收入射辐射(1、8)且产生与吸收的辐射的量成比例的电信号的薄片(2)的防散射格栅(ASG)。薄片(2)可以特别地由半导体材料组成,在半导体材料中光子产生了可借助于薄片(2)的侧壁上的电极(3、4、6)检测到的电子-空穴对。因此可以以空间分辨地方式确定吸收的散射辐射(8)或初级辐射(1)的量,这允许修正由传感器单元(9)的阵列(5)生成的图像。 | ||
搜索关键词: | 用于 辐射 检测器 散射 格栅 | ||
【主权项】:
1.一种用于辐射检测器的防散射格栅(ASG),其包括适合于产生指示了吸收的辐射(1、8)的量的信号的辐射吸收薄片(2)。
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