[发明专利]用于辐射检测器的防散射格栅无效

专利信息
申请号: 200580027280.4 申请日: 2005-08-08
公开(公告)号: CN101002109A 公开(公告)日: 2007-07-18
发明(设计)人: G·泽特勒;G·沃格特梅尔;K·J·恩格尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01T1/164 分类号: G01T1/164;G01T7/00;G01T1/29
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 原绍辉
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及带有吸收入射辐射(1、8)且产生与吸收的辐射的量成比例的电信号的薄片(2)的防散射格栅(ASG)。薄片(2)可以特别地由半导体材料组成,在半导体材料中光子产生了可借助于薄片(2)的侧壁上的电极(3、4、6)检测到的电子-空穴对。因此可以以空间分辨地方式确定吸收的散射辐射(8)或初级辐射(1)的量,这允许修正由传感器单元(9)的阵列(5)生成的图像。
搜索关键词: 用于 辐射 检测器 散射 格栅
【主权项】:
1.一种用于辐射检测器的防散射格栅(ASG),其包括适合于产生指示了吸收的辐射(1、8)的量的信号的辐射吸收薄片(2)。
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