[发明专利]用于光谱分析的校准无效
| 申请号： | 200580028717.6 | 申请日： | 2005-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN101010574A | 公开（公告）日： | 2007-08-01 |
| 发明（设计）人： | W·伦森 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/36 | 分类号： | G01J3/36;G01J3/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 龚海军;陈景峻 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于确定光信号的主分量的振幅的光学分析系统。该主分量表示经历光谱分析的物质的各个化合物中特殊化合物的浓度。该光信号经历波长选择加权。优选借助于空间光操纵装置与色散光学元件相结合来进行光谱加权。本发明的校准机构和方法有效地允许空间光操纵装置的精确定位。校准是基于在空间光操纵装置上的校准段与参考光源和检测器的结合。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光谱分析 校准 | ||
【主权项】：
1.一种用于确定光信号(18)的主分量的光学分析系统(20)，该光学分析系统包括：-色散光学元件(22)，用于使该光信号的光谱分量沿第一方向空间地分开，-空间光操纵装置(26)，用于调制该光信号的光谱分量，-位于该空间光操纵装置上的第一位置的至少第一校准段(36、37)，该校准段对于参考光信号至少是部分透明的，-至少第一检测器(34，35)，其用于检测透射通过该至少第一校准段的至少一部分参考光信号，-用于响应于该至少第一检测器的输出信号而相对于该色散光学元件的定向来改变空间光操纵装置的相对位置的装置。
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