[发明专利]光检测装置无效
申请号: | 200580028802.2 | 申请日: | 2005-08-15 |
公开(公告)号: | CN101023330A | 公开(公告)日: | 2007-08-22 |
发明(设计)人: | 杉山行信;水野诚一郎 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;H01L31/10;H01L27/14;H04N5/335 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 像素部(Pm,n)包含有光电二极管(PD)、第1电容部(C1)、第2电容部(C2)及晶体管(T1~T6)。晶体管(T1)将由光电二极管(PD)所产生的电荷传送到第1电容部(C1)。晶体管(T2)将由光电二极管(PD)所产生的电荷传送到第2电容部(C2)。放大用晶体管(T3)输出与蓄积在第1电容部(C1)的电荷的量相对应的电压值。晶体管(T4)将从放大用晶体管(T3)输出的电压值选择性地输出到配线(L1,n)。晶体管(T3)及晶体管(T4)构成源极追随电路。晶体管T5及晶体管(T6)对分别蓄积在第1电容部(C1)及第2电容部(C2)的电荷进行选择地输出到配线(L2,n)。 | ||
搜索关键词: | 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光检测装置,其特征在于,具有:像素部,包括:产生与入射光强度相对应的量的电荷的光电二极管;蓄积由所述光电二极管所产生的电荷的第1电容部;蓄积由所述光电二极管所产生的电荷,并且具有与所述第1电容部相比较大的电荷蓄积容量的第2电容部;将由所述光电二极管所产生的电荷分别传送到所述第1电容部及第2电容部的第1传送器件及第2传送器件;栅极端子与所述第1电容部连接,并输出与蓄积在所述第1电容部的电荷的量相对应的电压值的放大用晶体管;对从所述放大用晶体管输出的电压值进行选择地输出的第1输出器件;对分别蓄积在所述第1电容部及所述第2电容部中的电荷进行选择地输出的第2输出器件;对所述第1电容部及所述第2电容部的各自的电荷进行初始化的初始化器件;第1信号处理部,读取由所述像素部的所述第1输出器件输出的电压值,并输出与该电压值相对应的第1电压值;第2信号处理部,读取由所述像素部的所述第2输出器件输出的电荷量,并输出与该电荷量相对应的第2电压值。
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