[发明专利]用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统有效
| 申请号： | 200580029515.3 | 申请日： | 2005-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN101287984A | 公开（公告）日： | 2008-10-15 |
| 发明（设计）人： | R·J·勒杜瓦;W·伯托兹 | 申请（专利权）人： | 护照系统公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/201 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张亚宁;段晓玲 |
| 地址： | 美国麻*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 这里公开了一种针对潜在威胁扫描目标的方法和系统，其利用自目标散射的光子的能量谱确定目标中平均原子序数和/或质量的空间分布。示范的方法包含：利用光子束照亮目标的多个体元的每一个；确定入射到每个体元上的入射通量；测量自体元散射的光子的能量谱；利用能量谱确定体元中的平均原子序数；以及利用入射通量、体元中材料的平均原子序数、能量谱、以及与体元对应的散射核确定体元中的质量。示范的系统可基于若干体元的平均原子序数和/或质量利用威胁检测试探法来确定是否触发进一步的动作。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 材料 平均 原子序数 质量 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析目标的体元中的材料的方法，所述方法包含：利用光子束照亮所述体元；测量在第一能量范围内和第一测量方向上自所述体元散射的第一光子数；测量在第二能量范围内和第二测量方向上自所述体元散射的第二光子数；确定所述第一光子数与所述第二光子数的比率；以及利用所述比率确定所述体元中所述材料的平均原子序数。
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