[发明专利]原子力显微分析法中用于检测高频力分量的扭转谐波悬臂无效
申请号: | 200580029863.0 | 申请日: | 2005-07-07 |
公开(公告)号: | CN101010751A | 公开(公告)日: | 2007-08-01 |
发明(设计)人: | C·F·奎特;O·沙欣;O·索尔戈德 | 申请(专利权)人: | 里兰斯坦福初级大学理事会 |
主分类号: | G12B21/02 | 分类号: | G12B21/02;G12B21/08 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 沙捷 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于原子力显微分析法中的悬臂,包括:伸出臂,该伸出臂具有连接到基部部件的固定端和自由端,其中伸出臂具有第一形状和与第一形状相关的扭转轴;和从伸出臂接近自由端处突出的探针尖端,其中探针尖端位于从扭转轴偏移的位置。可选地,伸出臂具有第一形状,选择第一形状以调节选定扭转模式的扭转共振频率或基本模式的基本弯曲共振频率,使得扭转共振频率和基本弯曲共振频率具有整数比例。在这种方式下,扭转谐波悬臂在谐波频率下的扭转运动将被相应的扭转共振大大增强。 | ||
搜索关键词: | 原子 显微 分析 用于 检测 高频 分量 扭转 谐波 悬臂 | ||
【主权项】:
1.一种用于原子力显微分析法的悬臂,包括:伸出臂,其具有连接到基部部件的固定端和自由端,所述伸出臂具有第一形状和与所述第一形状相关的扭转轴;和探针尖端,其从所述伸出臂上所述自由端附近突起,所述探针尖端设置在从所述扭转轴偏移的位置。
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